КОНТАКТ? ЕСТЬ КОНТАКТ!

Бытует довольно распространенное мнение о том, что электрические соединения с использованием краевых разъемов, где контакты выполнены в виде ламелей на печатных платах, являются менее надежными по сравнению со штыревыми разъемами и более подвержены влиянию внешних неблагоприятных воздействий.

Возможно, это и было когда то справедливо, однако жизнь не стоит на месте и новые поколения разъемов с контактами, выполненными по современным технологиям, обеспечивают улучшенное давление контактов, электропроводность, а также стойкость к вибрациям и ударам. Примечательно, что IBM, выбирая разъем для своей шины MicroChannel, не была связана какими либо ограничения ми по обеспечению совместимости с существующими из делиями, и могла выбрать за основу штыревой разъем. Тем не менее после интенсивного тестирования IBM остановилась на конструкции краевого разъема.

Чтобы не быть голословными, приведем краткий отчет о сравнительных испытаниях краевых разъемов для шины STD32 и штыревых разъемов DIN, используемых в шине VME. Идеологически шина STD32 была разработана на базе распространенной в США шины STD аналогично тому, как в свое время шина EISA появилась на свет от своего родителя шины ISA. Ламели разъема на платах STD32 изготавливаются по той же технологии покрытия золотом поверх никеля, которая применяется и во многих других современных индустриальных компьютерах, например MicroPC фирмы Octagon Systems. Испытания проводились независимой фирмой Contech Research (Атлборо, Массачу сетс) и показали, что краевые разъемы не уступают штыревым разъемам VME, а по некоторым показателям, например по токонесущей способности, даже превосходят их. Все тесты, где возможно, проводились по методикам соответствующих военных стандартов. Для каждого теста были установлены критерии, определяющие степень успешности их прохождения. В большинстве случаев в качестве такого критерия использовалось низкоуровневое сопротивление контактов (Low Level Contact Resistance, LLCR), которое измерялось для каждого контакта до и после теста. Измерения значений LLCR отображают вероятные изменения в работоспособности разъема, возникшие в результате проведения каждого теста. Использовалась следующая классификация амплитуд таких изменений в зависимости от степени их приемлемости:

Результаты тестов сгруппированы по видам испытаний.

Группа А. Стойкость к внешним воздействиям

Группа B. Электрические характеристики

Группа С. Механические характеристики

 

Группа D. Газонепроницаемость

Группа Е. Характеристики разъема